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薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜厚度的精密儀器，廣泛應(yīng)用于半導體、電子、光學、食品、化工等領(lǐng)域。該儀器可以測量各種材質(zhì)的薄膜厚度，如金屬、氧化物、氮化物、碳化物、半導體等。薄膜測厚儀的主要組成部分包括傳感器、測量系統(tǒng)和顯示器。傳感器是測厚儀的核...

熱激勵去極化電流（thermallystimulateddepolarizationcurrents,簡寫為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間，加熱到一定溫度使...

鐵電測試儀是一種用于測量材料鐵電性質(zhì)的設(shè)備。鐵電性質(zhì)是指某些特殊材料在外加電場下會發(fā)生可逆的自發(fā)極化現(xiàn)象。這種材料具有許多重要應(yīng)用，例如壓電器件、存儲器和傳感器等。鐵電測試儀通常由以下幾個主要組成部分組成：1.供應(yīng)系統(tǒng)：提供穩(wěn)定而精確的直流...

測色儀是一種用于測量物體顏色的儀器。它通過檢測物體反射、透射或發(fā)射的光譜數(shù)據(jù)，然后根據(jù)這些數(shù)據(jù)計算出物體的顏色數(shù)值。測色儀通常包括以下幾個主要部分：1.光源：提供光線以照亮待測試的樣品。常見的光源有白熾燈、熒光燈和LED等。2.探頭：與待測...

一、薄膜測厚儀的基本原理薄膜測厚儀主要是利用光學干涉法，即將被測物體與參考面之間形成等距空氣隙，當入射光在空氣和物體表面之間反彈時產(chǎn)生兩束反射光，在相遇處會發(fā)生疊加干涉現(xiàn)象。通過檢測干涉條紋的數(shù)量來確定光路差，從而計算出被測物體的厚度。二、...

鐵電分析儀是一種專門用于測試材料鐵電性能的儀器，它主要利用極化電場和交變電場來產(chǎn)生、測量材料的鐵電性質(zhì)。本文將對鐵電分析儀的技術(shù)原理、應(yīng)用以及發(fā)展趨勢等方面進行詳細介紹。一、技術(shù)原理1.鐵電效應(yīng)在某些晶體中存在著一種特殊的極化現(xiàn)象，即當外加...